CNAS认可
近日，杭州广立测试设备有限公司校准实验室顺利通过中国合格评定国家认可委员会（CNAS）的审核，正式踏入国际互认实验室的行列。CNAS作为国内认可领域的权威机构，其认可意味着广立微在电磁学测量仪器校准领域的校准能力、管理体系、技术水平等方面已达到ISO/IEC 17025国际标准。
校准实验室配备世界领先的先进分析仪器和校准设备，严格执行国家《计量法》、《质量法》以及其他与校准相关的法规，拥有一整套科学、规范的质量保证体系和规章制度。
广立微致力于开发和提供技术领先、具有国际竞争力的半导体参数测试系统，横向拓展晶圆级可靠性测试设备品类，满足更多样化的市场需求。
机台性能强大
精度高：电流测试精度sub-pA，电压测试精度100μV，电容测试精度10fF；
软硬协同：“设计与测试协同”方案帮助客户提高测试生产率，可提升几十倍至上千倍；
算法库丰富
涵盖了WAT, WLR, Spice, Addressable可寻址电路算法；
提供优质服务
50人+FAE团队，工作经验丰富，大部分为硕士以上学历；
数据分析
测试数据可直接导入Semitronix自有的DE-G软件，使用相应WAT/ WLR数据分析模块，提供用户工作效率；
WAT 测试
数据准确：测试数据可与市面上Baseline机台match；
高效生产能力：测试速度为市面上Baseline 1.4x-5x；
支持多类工艺wafer测试：涵盖LOGIC、CIS、DRAM、SRAM、FLASH、RO、BCD等；
算法库丰富：支持ID/VT/VTGM/IOFF/ISUB/BV/CAP/CV/IV/ICP，BETA/VBE/BVCEO/BVCBO/BVEBO，R2/RKLV/LK/CAP_METAL，IREAD/ISTANDBY/IDDQ/WM/SNM，ERASE/PROGRAM，IDDA/IDDQ/FREQ等
软件及算法灵活可定制
WLR 测试
数据准确：测试数据可与市面上Baseline机台match；
支持HCI/ BTI/ VRAMP/ JRAMP/ VTDDB/ JTDDB/ EM/ PID/ SM/ ICP等 WLR 测试；
可根据测试需求进行定制化开发，如添加特定的监测模式，VRAMP测试过程输出四端Curve等；
支持智能化并行测试，大幅度提升测试速度。
目前，广立微可基于行业通用的JEDEC或客户定制标准提供半导体工艺可靠性相关咨询、验证、测试及数据分析服务,测试项目包括:
栅氧完整性（GOI Vramp/TDDB/Jramp）
热载流子注入（HCI）
负偏压温度不稳定性（NBTI）等
亦可提供高压及并行可靠性测试，提高测试效率，缩短客户工艺调试周期。
自主研发高性能硬件配置方案，未来将逐步增加测试设备种类，拓展到其他测试应用场景。
自此，广立微出具的校准报告，能在全球100多个国家和地区互认，可为全球客户提供极具公信力的校准证明，为客户提供更可靠、更权威的技术支持。
此次广立微成功获得国家校准实验室CNAS认可资质，标志着我司在计量校准领域实现了重大突破，全面提升了公司的综合技术服务实力与行业核心竞争力。广立微将依托国际标准的校准体系，为客户提供更具公信力、精准度和时效性的全维度校准解决方案。
关于我们
杭州广立微电子股份有限公司（股票代码：301095）是领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商，公司专注于芯片成品率提升和电性测试快速监控技术，是国内外多家大型集成电路制造与设计企业的重要合作伙伴。公司提供EDA软件、电路IP、WAT电性测试设备以及与芯片成品率提升技术相结合的整套解决方案，在集成电路设计到量产的整个产品周期内实现芯片性能、成品率、稳定性的提升，成功案例覆盖多个集成电路工艺节点。
